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        金相制樣

        • L-Victor提供世界領先的金相制樣設備供應商美國標樂Buehler公司的材料制備、測試和分析的整體解決方案。                                                                                                                                                     標樂是全球材料制備和分析領域的領導者,提供金相切割機,鑲嵌機,磨拋機和威爾遜硬度計等材料制備產品。Buehler產品與分析技術不僅應用于質量優化、產品研發領域和高校實驗室,而且還廣泛用于許多行業,包括航空航天與國防、汽車制造、電子、能源、醫療和原生金屬。作為先進科學設備及相關耗材的領先供應商,標樂公司始終致力于提供客戶亟需的最佳解決方案。

        硬度測試

        • Wilson 硬度計系列囊括了從洛氏、努氏/維氏和布氏硬度計到全自動檢測系統的品種齊全的硬度計產品,配有各種型號的硬度塊、附件和夾具。Wilson認證實驗室被公認為業內優質硬度塊和壓頭供應的全球領導者。                                                                                                                                                      除了提供專業的技術支持和服務以確保在全球范圍內進行質量一流的校準、檢定和服務外,Wilson的應用支持還將多年的實踐經驗和領先的技術專長融為一體。

        力學測試

        • 英斯特朗是目前材料力學性能測試領域的全球領導品牌,在全世界年銷售額近4億美元。                          在過去近70年的歷史里,英斯特朗為全球用戶提供了最優質的產品,精準的測量和完善的測試解決方案,幫助全球用戶解決了材料測試要求高且復雜的典型應用,其產品被廣泛用于評估材料、結構和部件的機械特性、物理特性以及性能。                                                                                                                    英斯特朗提供材料的機械(力學)性能和結構測試產品與解決方案,包括拉伸、壓縮、彎曲、疲勞、沖擊、動力學、扭轉和多軸加載等。                  


        光學顯微觀察

        • 徠卡顯微系統是全球顯微鏡與科學儀器的領導者。徠卡顯微系統的歷史最早可追溯到19世紀,作為一個德國家族式企業,徠卡顯微系統經過160余年不斷創新,逐步發展成為顯微鏡儀器行業的全球領導廠商。  徠卡顯微系統始終與科學界保持密切聯系,不斷推出為客戶度身定制的顯微解決方案。L-Victor提供徠卡光學顯微鏡、立體顯微鏡、數碼顯微鏡等系列產品和材料及工業質量保證解決方案。

        電鏡制樣

        • 電子顯微鏡樣品制備、掃描電鏡及透射電鏡樣品制備優秀的樣品制備,是完美顯微鏡的前提。徠卡提供最全面的產品種類,包括電子顯微鏡樣品制備、掃描電鏡樣品制備和投射電鏡樣品制備供生物,臨床,醫療和工業樣品等的準備。                                                                                                                    徠卡產品可以制備出完美的樣品,用于電子顯微鏡(TEM透射電子顯微鏡/SEM掃描電子顯微鏡)、LM(光學顯微鏡)、共聚焦顯微鏡和AFM(原子力顯微鏡)檢驗。徠卡的樣品制備儀器,以滿足技術和人機工程學的最高要求,實現在納米技術領域的高精確的結果。

        球磨粉碎

        • 德國FRITSCH公司是實驗室應用儀器的專業制造廠商。FRITSCH儀器廣泛應用于樣品制備(研磨、破碎、篩分、清洗)和顆粒粒度分析,適用于過程監控和質量保證的快速行業應用,以及在控制和研究實驗室的準確研究技術應用。                                                                                                                          L-Victor根據您的需要,結合FRITSCH公司產品的特點及雄厚的技術背景,為您提供最為滿意的樣品制備和顆粒度分析解決方案,同時提供專業個性化售前、售后服務、相關技術支持、咨詢及培訓。

        粒度分析

        •  靜態光散射-適合不超過2000 μm的粒徑                                                                                              激光粒度儀ANALYSETTE 22 MicroTec plus(0.08 - 2000微米)和NanoTec plus(0.01 - 2000微米)廣泛適用于生產和質量控制,以及顆粒粒徑精確測量的研究和開發。
          動態圖像分析 — 在1 μm - 20 mm寬廣范圍內的顆粒粒形及粒徑分布分析!                                      粒徑分析儀ANALYSETTE 28 ImageSizer (20 μm – 20 mm) 以及 ImageTec (1 μm – 2.8 mm) 既 適用于粉體和散裝固體也適用于懸浮液和乳液。

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